高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸に対し直交する軸で照射・撮像が可能。
IFVAに比べて高さ方向のスペースが削減でき、省スペース化を実現。
正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。
基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能
※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
| 価格情報 | お問い合わせください。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | IFVA-ST |
| 用途／実績例 |
・半導体/電子部品業界 →基板のパターン検査、ウェハーのマーキング検査 ・食品/包装/薬品業界 →光沢面の刻印、表面キズ検査 |
関連ダウンロード
ストレート疑似同軸落射照明 IFVA-STシリーズ
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