最終更新日:
2023-04-14 18:01:13.0
【アプリケーション事例】微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境
微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境について、当社では
様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。
高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント
基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、
研究開発から製造、品質検査まで実施されます。
高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、
誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮（EUTから測定器までを
完全にシールドする）が必要です。
【対象アプリケーション】
■材料化学
・バイオマテリアル、セラミック、エラストマー、薄膜、誘電材料、
電気化学、強誘電体、グラフェン、金属、有機材料 他
■デバイス／電子コンポーネント
・キャパシタ、抵抗、ダイオード、センサなどのトランジスタ、
光電子部品、太陽電池セル 他
■電子/非電子システム
・イオン・ビーム、電子ビーム 他
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【システム構成】
■シールドボックス ［MY1510N］
■シールドボックス ［MY1520N］
■シールドボックス ［MY1530N］
■ピコアンメータ，エレクトロメータ
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