森田テック株式会社

【UWB】IEEE 802.15.4z/FiRa 製品検査

最終更新日: 2024-03-25 16:15:28.0
RFコネクタのないUWB製品の検査は「OTA試験」となります。「近くで測る」アンテナカプラでの「OTA試験環境」を提案します。

Apple社 U1チップで有名な「UWB IEEE 802.15.4z」およびFiRa UWBの「OTA試験ソリューション」
・Apple社 U1チップでの「UWB IEEE 802.15.4z」応用製品試験
・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験
・UWB LIN gateway 製品試験
・UWB CAN gateway 製品試験
・アンテナカプラ応用の「OTA試験ソリューション」
・開発フェーズでの「OTA試験」
・量産フェーズでの「OTA試験」手動~自動検査(シールドボックス)

開発フェーズ R&D自席での製品開発に貢献します。
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」

量産製造フェーズ 検査コストの削減に貢献します。
・OTA試験環境により検査時間短縮(タクトタイム短縮)
・検査工程の省スペース化
・自動化
・非接触による試験

※OTA試験とは、
被測定物の特性評価を「同軸コネクタ/ケーブル」接続ではなく、無線(Over The Air)接続で行うこと。非接触で送受信の試験を行うことが可能です。

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基本情報

※アンテナカプラ組込みシールドボックス「OTA試験環境」
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」
・検査時間短縮
・タクトタイム短縮
・省スペース

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 国際特許「近くで測る」アンテナカプラを応用製品
アンテナカプラを使用した「小型OTA試験環境」も特許取得済。

・IEEE 802.15.4z UWB 応用製品試験
・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験
・UWB LIN gateway 製品試験
・UWB CAN gateway 製品試験
・UWB スマホ決済、タグ 応用製品
・UWB 空間認識、AR 応用製品
・Time-of-Flight Distance Measurement

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