最終更新日:
2024-10-30 16:12:44.0
RFコネクタのないUWB製品の検査は「OTA試験」となります。「近くで測る」アンテナカプラでの「OTA試験環境」を提案します。
Apple社 U1チップで有名な「UWB IEEE 802.15.4z」およびFiRa UWBの「OTA試験ソリューション」
・Apple社 U1チップでの「UWB IEEE 802.15.4z」応用製品試験
・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験
・UWB LIN gateway 製品試験
・UWB CAN gateway 製品試験
・アンテナカプラ応用の「OTA試験ソリューション」
・開発フェーズでの「OTA試験」
・量産フェーズでの「OTA試験」手動～自動検査（シールドボックス）
開発フェーズ R&D自席での製品開発に貢献します。
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」
量産製造フェーズ 検査コストの削減に貢献します。
・OTA試験環境により検査時間短縮（タクトタイム短縮）
・検査工程の省スペース化
・自動化
・非接触による試験
※OTA試験とは、
被測定物の特性評価を「同軸コネクタ／ケーブル」接続ではなく、無線（Over The Air）接続で行うこと。非接触で送受信の試験を行うことが可能です。
基本情報
※アンテナカプラ組込みシールドボックス「OTA試験環境」
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」
・検査時間短縮
・タクトタイム短縮
・省スペース
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 国際特許「近くで測る」アンテナカプラを応用製品 アンテナカプラを使用した「小型ＯＴＡ試験環境」も特許取得済。 ・IEEE 802.15.4z UWB 応用製品試験 ・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験 ・UWB LIN gateway 製品試験 ・UWB CAN gateway 製品試験 ・UWB スマホ決済、タグ 応用製品 ・UWB 空間認識、AR 応用製品 ・Time-of-Flight Distance Measurement |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
森田テック株式会社
