カタログ

【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定_C0067

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

最終更新日： 2021-05-19 12:25:25.0技術資料・事例集

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【分析事例】Siウエハ ベベル部の汚染評価

金属成分と有機成分を同時に評価可能です

最終更新日： 2019-07-29 13:54:05.0技術資料・事例集

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【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

最終更新日： 2016-02-15 09:29:31.0技術資料・事例集

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【分析事例】バンプの広域断面観察

イオンポリッシュによる断面作製で微小特定箇所の広域観察が可能です

最終更新日： 2016-02-15 09:31:23.0技術資料・事例集

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【分析事例】TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察_C0090

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

最終更新日： 2023-03-22 12:21:29.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価_C0094

不活性ガス雰囲気下で前処理からXPS測定まで行います

最終更新日： 2021-05-20 17:27:24.0

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【分析事例】多元系金属微粒子の結晶構造観察

InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察

最終更新日： 2017-08-11 14:09:18.0技術資料・事例集

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【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価可能です

最終更新日： 2019-07-29 13:59:52.0技術資料・事例集

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【分析事例】リチウムイオン二次電池材料の総合評価

課題解決のために各種手法を組み合わせた評価を行います

最終更新日： 2019-03-25 16:43:20.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機薄膜太陽電池の断面観察

低加速電圧のSTEMを用いると有機膜のわずかな密度の違いが観えます

最終更新日： 2016-02-15 11:30:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】CIGS膜の結晶粒評価

SEMによる結晶方位解析

最終更新日： 2016-02-15 11:32:28.0技術資料・事例集

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【分析事例】CIGS太陽電池の各層の相互拡散評価

表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です

最終更新日： 2016-02-15 11:40:38.0技術資料・事例集

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【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

最終更新日： 2016-02-16 09:30:41.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価

TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価

最終更新日： 2016-02-15 11:53:56.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機ELディスプレイの総合評価

構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

最終更新日： 2016-03-11 12:23:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価_C0136

断面イメージングSIMSより面内分布のある不純物評価が可能です

最終更新日： 2023-03-22 14:35:04.0技術資料・事例集

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【分析事例】顔料・色素の分散の観察

TOF-SIMSによる微小領域のイメージ測定

最終更新日： 2019-03-25 15:59:22.0技術資料・事例集

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【分析事例】毛根の成分分析

TOF-SIMSを用いた生体成分のコレステロール・脂肪酸の可視化

最終更新日： 2016-02-15 12:50:52.0技術資料・事例集

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【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価

高分解能EELSトモグラフィー

最終更新日： 2016-02-15 12:54:22.0技術資料・事例集

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【分析事例】燃料電池の固体高分子電解質膜の評価

分子構造評価・化学状態評価が可能です

最終更新日： 2023-04-20 17:34:19.0技術資料・事例集

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【分析事例】燃料電池用触媒の分析_C0144

Ptの酸化状態評価、Pt粒子の形態観察/凝集評価が可能です

最終更新日： 2021-05-27 17:10:42.0技術資料・事例集

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【分析事例】パワートランジスタ（DMOSFET）の拡散層評価

ゲート・ソース層・ボディ層の位置関係がわかります

最終更新日： 2016-02-15 12:59:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価_C0159

雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能です

最終更新日： 2021-05-27 17:25:39.0技術資料・事例集

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【分析事例】照明用発光素子の総合評価

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

最終更新日： 2016-02-15 13:05:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価

最終更新日： 2016-02-15 13:06:59.0技術資料・事例集

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察

超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価

最終更新日： 2016-02-15 13:13:24.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

界面や各層のより正確な情報を得るために特殊加工・最適条件を検討しました

最終更新日： 2016-02-15 13:16:28.0技術資料・事例集

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【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

最終更新日： 2019-07-29 14:00:31.0技術資料・事例集

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HAADF-STEM像とは_B0088

HAADF-STEM： 高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

最終更新日： 2021-04-29 17:33:52.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価_C0087

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

最終更新日： 2023-03-08 18:57:26.0技術資料・事例集

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