【分析事例】SiC Planer Power MOSの分析SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価) 最終更新日: 2019-03-12 13:18:46.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】ウエハケース内ウエハの有機汚染評価製造プロセスおける有機汚染の原因や総量を評価できます 最終更新日: 2019-03-25 16:28:48.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】GaN膜の組成・結合状態分析_C0381X線源を選択することで目的に合わせた評価が可能です 最終更新日: 2021-06-10 14:02:07.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】X線CT観察によるSiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージの評価ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察 最終更新日: 2022-11-18 17:21:09.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁評価デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価 最終更新日: 2019-03-27 13:59:54.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】STEM・EDXデータと像シミュレーションによる評価STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます 最終更新日: 2019-03-27 14:37:16.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析_C0557像シミュレーションを併用した結晶形の評価 最終更新日: 2021-05-27 16:33:24.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】SMMおよびSNDMによるSiC Trench MOSFETの拡散層評価_C0556SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます 最終更新日: 2022-05-09 13:41:40.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能 最終更新日: 2019-04-24 09:58:31.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例 最終更新日: 2019-07-29 14:15:49.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察 最終更新日: 2019-07-29 14:13:16.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】Siウエハ ベベル部の汚染評価金属成分と有機成分を同時に評価可能です 最終更新日: 2019-07-29 13:54:05.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定 最終更新日: 2019-07-29 14:00:31.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】低分子シロキサンの定量分析アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します 最終更新日: 2019-10-07 11:14:23.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
剥離原因となる金属界面の有機物評価_B0285TOF-SIMSで金属界面の有機物を深さ方向に評価できます 最終更新日: 2022-11-10 11:48:58.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
XPSスペクトルデータ解析サービス_D0014お手元のXPSスペクトルデータの解析、レポート作成をお引き受けします 最終更新日: 2022-06-23 10:27:28.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
リートベルト解析(Rietveld_analysis)とは_B0277XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます 最終更新日: 2023-03-29 17:45:24.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
集束イオンビーム質量分析法_A0079FIB-MS :Focused Ion Beam Mass Spectrometry 最終更新日: 2021-10-07 17:51:39.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
電子プローブマイクロアナライザー_A0076EPMA:Electron Probe Micro Analyzer 最終更新日: 2021-07-22 14:08:47.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】オイルの分析(GC/MS編)_C0648石油製品の組成同定、分子量分布の評価、オイル種類の区別が可能です 最終更新日: 2021-04-08 17:25:08.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】Si酸化膜の膜厚評価_C0022酸素量(O面密度)からSi酸化膜の膜厚を算出 最終更新日: 2021-04-02 16:35:25.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】撥水箇所の成分分析_C0686TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です 最終更新日: 2023-02-03 10:26:44.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析_C0680点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます 最終更新日: 2022-12-08 11:30:42.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析_C0692様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です 最終更新日: 2023-03-23 15:57:04.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価_C0696発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます 最終更新日: 2023-08-24 12:23:48.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定_C0698ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析 最終更新日: 2023-10-05 11:07:45.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。 最終更新日: 2023-10-19 10:38:54.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み