【分析事例】ノーマリーオフ型 GaN HEMT 二次元電子ガス層評価_C0702製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です 最終更新日: 2023-11-30 11:55:59.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所の複合解析_C0707デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供 最終更新日: 2024-04-04 10:18:18.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価_C0705無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます 最終更新日: 2023-12-28 15:18:36.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】GaN基板の表面形状分析_C0708FMによるステップ-テラス構造の可視化 最終更新日: 2024-04-25 11:55:44.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み