【分析事例】光デバイス カタログ一覧

【分析事例】ウエハ・チップの特定箇所の前処理技術

目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

最終更新日： 2016-02-15 14:09:43.0技術資料・事例集

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【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

最終更新日： 2016-02-15 10:21:43.0技術資料・事例集

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【分析事例】GaN系デバイスの発光・発熱解析

GaN系デバイス耐圧評価、及び、表面発熱分布評価のご提案

最終更新日： 2016-03-10 15:18:05.0技術資料・事例集

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 13:22:32.0技術資料・事例集

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析_C0269

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

最終更新日： 2023-04-19 17:49:06.0技術資料・事例集

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【分析事例】UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

最終更新日： 2016-08-25 13:43:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価_C0002

XPSを用いたウエハ表面数nmの膜厚の見積もり

最終更新日： 2021-05-19 11:42:12.0技術資料・事例集

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【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価

水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可能です

最終更新日： 2016-04-19 11:28:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価_C0409

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

最終更新日： 2023-04-10 14:22:57.0技術資料・事例集

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【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

最終更新日： 2016-03-18 10:32:08.0技術資料・事例集

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【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:29:57.0

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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:59:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

低ダメージで表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

最終更新日： 2022-10-13 09:57:44.0技術資料・事例集

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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:29:24.0技術資料・事例集

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【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 13:25:24.0技術資料・事例集

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【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 13:13:25.0技術資料・事例集

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【分析事例】GaN系LED構造中不純物の深さ方向濃度分析

目的に応じた分析条件で測定します

最終更新日： 2016-08-25 13:39:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】SSDP-SIMSによるSi基板へのAl,Gaの拡散評価_C0267

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

最終更新日： 2021-05-28 17:09:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価_C0279

XPSを用いたウエハ表面数nmの膜厚の見積もり

最終更新日： 2021-05-31 18:43:12.0技術資料・事例集

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【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

最終更新日： 2016-03-01 14:23:54.0技術資料・事例集

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【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

最終更新日： 2016-03-01 13:08:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析_C0242

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

最終更新日： 2021-05-28 14:42:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価

最終更新日： 2023-04-20 17:39:37.0

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【分析事例】ZnO膜の組成・不純物の三次元分布評価の詳細

イメージングSIMS分析により面内分布を可視化

最終更新日： 2016-02-19 11:02:36.0技術資料・事例集

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【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

最終更新日： 2016-02-18 15:16:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】照明用発光素子の総合評価

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

最終更新日： 2016-02-15 13:05:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】イメージセンサの拡散層形状評価

試料解体から測定まで一貫して対応します

最終更新日： 2019-02-19 12:05:34.0技術資料・事例集

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【分析事例】CMOSセンサの総合評価

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

最終更新日： 2019-02-20 09:29:02.0技術資料・事例集

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【分析事例】GaN膜の組成・結合状態分析_C0381

X線源を選択することで目的に合わせた評価が可能です

最終更新日： 2021-06-10 14:02:07.0技術資料・事例集

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【分析事例】撥水箇所の成分分析_C0686

TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

最終更新日： 2023-02-03 10:26:44.0技術資料・事例集

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