![A0002.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/23b/45760/IPROS2817969006318663701.jpg?w=100&h=100)
![img_sra1.jpg](https://images.ipros.jp/public/premium/image_category/099/387108/IPROS8049370397019720761.jpg?w=100&h=100)
【測定法】SPM関連
◆AFM(原子間力顕微鏡法)
◆SCM(走査型静電容量顕微鏡法)
◆SMM(走査型マイクロ波顕微鏡法)
◆SSRM(走査型広がり抵抗顕微鏡法)
◆SRA(広がり抵抗測定法)
◆SCM(走査型静電容量顕微鏡法)
◆SMM(走査型マイクロ波顕微鏡法)
◆SSRM(走査型広がり抵抗顕微鏡法)
◆SRA(広がり抵抗測定法)
![A0002.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/23b/45760/IPROS2817969006318663701.jpg?w=100&h=100)
![A0011_走査型静電容量顕微鏡法_SCM・走査型非線形誘電率顕微鏡法_SNDM.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/9f9/41129/IPROS13910192691731463336.jpg?w=100&h=100)
![A0055_磁気力顕微鏡法_MFM.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/2a3/484396/IPROS22990981393460350710.jpeg?w=100&h=100)
【MFM】磁気力顕微鏡法
MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁 気情報を得る測定手法です。
最終更新日:
2019-10-25 10:52:15.0技術資料・事例集
![C0644_AFM-MAによる食品_ロースハム_の機械特性評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/624/564617/IPROS15110711769331687814.jpeg?w=100&h=100)
![C0579_ポリイミドのイミド化反応評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f90/491349/IPROS40651091468597998208.jpeg?w=100&h=100)
![C0702_ノーマリーオフ型_GaN_HEMT_二次元電子ガス層評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/3b8/733017/IPROS93610925367422453423.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】ノーマリーオフ型 GaN HEMT 二次元電子ガス層評価_C0702
製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です
最終更新日:
2023-11-30 11:55:59.0技術資料・事例集
![C0708_GaN基板の表面形状分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/010/752828/IPROS79231911741932419492.jpeg?w=100&h=100)
【測定法】質量分析法
【測定法】光電子分光法
【測定法】電子顕微鏡観察・分析
【測定法】振動分光
【測定法】X線回折関連
【測定法】SPM関連
【測定法】故障解析
【測定法】そのほかの測定法
【加工法・処理法】
その他のサービス・サポート情報
【分析事例】LSI・メモリ
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【分析事例】酸化物半導体
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【分析事例】電子部品
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【分析事例】製造装置・部品
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【分析事例】化粧品
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