一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

[SCM][SNDM]

最終更新日: 2019-03-20 10:37:09.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

導電性コーティングされた探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手法です。
SCM分析(走査型静電容量顕微鏡法)およびSNDM分析(走査型非線形誘電率顕微鏡法)における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

カタログ 【測定法】SPM関連一覧(710件)を見る