全てのEMC試験（イミュニティ試験）の工数削減・効率化に！
○ 別の半導体（IC）へ変更する際の判定基準を確立させることで、半導体変更に伴うEMC試験の再実施を省略し工数削減を実現します。
○ 製品開発のフロントローディングでDPI試験を実施することにより、EMC耐性の高い半導体を選定できEMC対策の工数削減が見込めます。
DPIイミュニティ試験法とは、IEC規格で標準化されている半導体(IC)用のイミュニティ評価方法です。
評価するICを搭載したテストボード上のIC電源にRF妨害電力を直接注入し、イミュニティの耐性を評価する試験です。
試験は、試験周波数毎に試験レベル(電力)を段階的に上げていき、その都度にICの性能確認を実施する必要があります。
また、誤動作発生時にはその誤操作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かります。
ノイズ研究所のDPIイミュニティ試験システムは、試験の実施から誤動作判定までを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力できる画期的な自動化システムです。
● IEC 62132-1のIC パフォーマンスクライテリアに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。
● 最大10個の判定条件（自動測定判定8個＋マスクテスト判定＋シリアルデコード判定）を自由に組み合わせて、ICの誤動作判定ができます。
● 誤動作発生時のICリセット等のために、複数台のDC電源を制御して電源をON/OFFできます。
● EUT(IC)に合わせて電圧値やリセット時間などを設定できます。
● マルチスイープ機能で試験時間を大幅に短縮できます。
● TEM-Cell法（IEC 62132-2）、 ICストリップライン法（IEC 62132-8）の試験もできます。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 |
〇 別の半導体（IC）へ変更する際の判定基準を確立させ、 PCN（製品変更通知）時における試験の工数削減 〇 完成品に対しての試験の前に、誤動作の主要因となりうる半導体（IC） を予め評価し、フロントローディングによるEMC対策の工数削減 |
詳細情報
【半導体EMC性能等価性評価について 】
半導体EMC性能等価性評価は機能が同一であり、端子構成及び端子位置に変更がなく、かつ、電気的特性に差異がない製品間に対して行います。評価法は電子情報技術産業協会よりJEITA ED-5008（半導体EMC性能等価性評価法）が2020年7月に、自動車技術会からはJASO D 019（自動車用半導体EMC性能等価性試験法）が2021年3月に制定されました。
評価は伝導イミュニティ性能等価評価および伝導エミッション性能等価評価の２つがありますが、伝導イミュニティ性能等価評価はDPI法で行い、変更する半導体製品（IC）の等価性の証明ができれば、製品性能は同等と見なすことができます。
現在、一部業界や業種では半導体EMC性能等価性評価を行い、EMC試験の工数削減への取り組みが始まりました。
【 製品開発プロセスにDPIイミュニティ試験を組み込む 】
製品は企画→開発設計→基板設計→実装→組立のプロセスを経て作られます。完成後、EMC試験を行い、合格後に量産化へと進みますが、EMC試験でNGが出た場合、ノイズ対策を実施し設計のフェーズに戻るため工数が発生します。製品開発プロセスにDPIイミュニティ試験をフロントローディングとして組み込むことにより、誤動作の主要因となりうる半導体製品（IC）を定量的に評価することができ、EMC対策の工数削減が見込めます。
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株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）
