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蛍光X線式 膜厚測定器  微小部測定用『 XDV-μ 』

最終更新日: 2020-08-13 15:00:39.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

ポリキャピラリX線光学系を採用!微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの膜厚を短時間で高精度に測定可能!
『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い
エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。

関連情報

蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』
蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』 製品画像
【仕様(抜粋)】
■測定元素範囲:Al(13)~U(92)
■X線検出器:シリコンドリフト検出器(SDD)
■X線管球:マイクロフォーカスチューブ
■プライマリフィルター:4種類
■本体寸法:660×835×720mm(幅×奥行×高さ)
■消費電力:最大120W

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
『膜厚計の基礎知識 膜厚測定の原理』
『膜厚計の基礎知識 膜厚測定の原理』 製品画像
【製品ラインアップ】
<金属系薄膜 膜厚測定器>
◎蛍光X線式膜厚測定器「FISCHERSCOPE X-RAYシリーズ」
 ・微細部/高精度モデル XDV-μ
 ・汎用/万能モデル XDLM 237
 ・ハンドヘルドモデル XAN 500
◎電磁式膜厚測定器「DELTASCOPE FMPシリーズ」
◎渦電流式膜厚測定器「ISOSCOPE FMPシリーズ」

※「PDFダウンロード」より、一部製品のカタログをご覧いただけます。
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