最終更新日:
2020-10-19 06:54:41.0
表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載
『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、
装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、
機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。
スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、
サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、
サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。
【特長】
■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化
■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察
■ニーズに応じて測定モードの追加が可能
■お客様先に装置を持参してのデモも受付中
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。
基本情報
【仕様】
◎スキャン範囲（分解能）：70μm(1.0 nm)
◎Zノイズレベル（Static/Dynamicモード使用時）: typ.0.4nm(max.0.8nm)/typ.0.3nm(max.0.8nm)
◎搭載可能サンプルサイズ：12mm角以内/高さ3.5mmまで
◎サンプルステージ可動範囲：面内12mm
◎装置サイズ(縦横高さ)：204×204×160mm
◎重量：6.5kg
◎電力：100～240VAC(30W)
【用途】
大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場での表面形状計測
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
日本カンタム・デザイン株式会社
