20個分のサンプルの同時試験が可能となるIOL試験、空冷パワーサイクル試験について紹介します。
小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、IOL試験専用試験設備を設置し、試験の受託を開始しました。
小型ディスクリート系の半導体パワーデバイスのパワーサイクル試験は、JEITA ED-4701/600で試験方法が規定されています。
また、米国の自動車部品規格AEC-Q…
小型ディスクリート系の半導体パワーデバイスのパワーサイクル試験は、JEITA ED-4701/600で試験方法が規定されています。
また、米国の自動車部品規格AEC-Q…
2022-10-18 00:00:00.0その他・お知らせ