TDDB(酸化膜破壊)試験寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要 最終更新日： 2023-09-08 15:27:58.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素！ 最終更新日： 2023-11-01 11:20:12.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
試料に生じる反りやうねり、粗さの分析および測定試料全体の変化を観察する技術や知見を集積！安全に駆動することが求められます 最終更新日： 2023-12-21 11:26:27.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)薬液ダメージ低減、高い加工位置精度！IC等のパッケージ開封サービスをご紹介 最終更新日： 2024-01-31 15:37:59.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
アバランシェ試験/連続アバランシェ試験パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体の実力を評価！ 最終更新日： 2024-02-06 10:52:23.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
短絡耐量試験の概要および特長パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路についてご紹介 最終更新日： 2024-02-27 16:16:25.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
パワーサイクル試験装置の開発/製造/販売複数個のDUTの同時試験が可能！要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ 最終更新日： 2024-03-05 13:19:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
解析技術：静電気破壊SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用！IR-OBIRCHで故障箇所を特定 最終更新日： 2024-05-23 16:28:54.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
新規次世代パワー半導体の研究開発拠点を開所低損失化、高耐圧化、小型化の面で優位性を持つ、GeO2半導体の製膜事業の早期参入を目指す！ 最終更新日： 2024-06-03 16:40:30.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
「パワエレテクノセンター」を新規設立高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！ 最終更新日： 2024-06-24 16:22:28.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
