アンドールシステムサポート株式会社

自動テストソリューション事業部

【導入事例】基板実装の検査工程でJTAGテストを導入

最終更新日: 2024-03-14 17:38:33.0
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供!

基板実装の検査工程で、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。

近年需要が増えているBGA実装に対しアズビル太信では、X線検査機を導入しましたが、オープン不良など判断がつかないものが存在して、不具合流失等が大きな課題となっておりました。

そこで、JTAGテストを導入することで、BGA実装における未検査領域を大きく減らす事に成功しました。

【事例】
■アズビル太信株式会社(長野県北部)
 ・工場やプラントの計測制御の生産拠点
■課題:BGA実装では未検査領域拡大による不具合流失

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【効果】
■不具合流出の事前防止
■不具合原因の特定
■時間工数の大幅削減
■BGA実装の品質保証を実現
■客先からの製造不具合による解析時間短縮

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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