最終更新日:
2024-03-14 17:38:33.0
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供!
基板実装の検査工程で、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。
近年需要が増えているBGA実装に対しアズビル太信では、X線検査機を導入しましたが、オープン不良など判断がつかないものが存在して、不具合流失等が大きな課題となっておりました。
そこで、JTAGテストを導入することで、BGA実装における未検査領域を大きく減らす事に成功しました。
【事例】
■アズビル太信株式会社(長野県北部)
・工場やプラントの計測制御の生産拠点
■課題:BGA実装では未検査領域拡大による不具合流失
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【効果】
■不具合流出の事前防止
■不具合原因の特定
■時間工数の大幅削減
■BGA実装の品質保証を実現
■客先からの製造不具合による解析時間短縮
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部