最終更新日:
2024-03-14 17:38:33.0
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立!
実装実験時に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。
インサーキットテスト(ICT)の検査率や直行率の低下に対しても、 当製品を導入することにより効果的に解決されました。
【事例】
■コニカミノルタ電子株式会社(山梨県東部)
・複合機や、高度な医療機器などの高密度実装基板や樹脂成形品を生産
■課題
・インサーキット検査の検査率や直行率の低下
・少量多品種製品における検査費用の向上
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【導入効果】
■高密度実装検査の効率化を実現
■BGAの実装保障と従来検査のコストダウンを両立
■試作・小ロット製品も一貫した検査体制で検査コストの極小化
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アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部