自社開発製品の生産ラインに「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。
JTAG対応デバイスのパッケージがBGAの場合とDSP(CPU) + RAM + ROMの形態の基板は、基本的な配線チェックをJTAGテストで確認してからファームウェア担当者に提供。
これにより、基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることができています。
【事例】
■ティアック株式会社 音響機器事業部
・音響機器の開発・販売
■開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【導入効果】
■基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがない
■開発効率を上げることができる
■テストデータ作成期間が大幅に短縮
■ターゲットデバイスの詳しい知識が無くても生産用チェッカーが製作可能
■チェッカーの制作単価を1/2~1/3程度、社内工数を1/5~1/10程度に抑えることが出来た
■ROMソケットの廃止や試作中のリスク対応に選択肢が増えた
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部