アンドールシステムサポート株式会社

自動テストソリューション事業部

【導入事例】タスカム製品の検査にJTAGテストを採用

最終更新日: 2024-03-14 17:38:33.0
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト!

自社開発製品の生産ラインに「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。

JTAG対応デバイスのパッケージがBGAの場合とDSP(CPU) + RAM + ROMの形態の基板は、基本的な配線チェックをJTAGテストで確認してからファームウェア担当者に提供。

これにより、基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることができています。

【事例】
■ティアック株式会社 音響機器事業部
 ・音響機器の開発・販売
■開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【導入効果】
■基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがない
■開発効率を上げることができる
■テストデータ作成期間が大幅に短縮
■ターゲットデバイスの詳しい知識が無くても生産用チェッカーが製作可能
■チェッカーの制作単価を1/2~1/3程度、社内工数を1/5~1/10程度に抑えることが出来た
■ROMソケットの廃止や試作中のリスク対応に選択肢が増えた

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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