【その他特長】
■効率的な化学分析
■イージーメンテナンス
■接続性（Wi-Fi、イーサネット、USB）
■データの一元管理
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■効率的な化学分析
■イージーメンテナンス
■接続性（Wi-Fi、イーサネット、USB）
■データの一元管理
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最終更新日:
2024-03-06 10:43:24.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
設置面積わずかA4 1ページ分の超小型FT-IR
世界最小クラスのコンパクトボディに日常の赤外スペクトル分析に求められる機能のほとんどを搭載した、これまでにない分析ツールです。
プラグ&プレー機能や簡単操作を実現するソフトウェア、そしてサンプリングアクセサリの着脱を短時間で確実にサポートする QuickSnap 機構など、使いやすさと使える性能を追求したブルカーならではの FT-IR システムです。
主な特徴
○ コンパクトボディ 設置面積 22 x 30 cm
○ ワンタッチで交換可能な豊富なサンプリングモジュール
○ RockSolid 干渉計を採用
○ イーサネット接続、無線制御も可能
○ 予想を裏切る高性能
本カタログでは、ALPHA IIの機能を簡単にご紹介しています。
装置の詳しい情報やアプリケーションについては、ホームページをご覧頂くか、弊社までお電話でお問い合わせください。
ホームページ www.bruker.com
電話 045-450-1601（営業時間：平日9:00~17:30）
関連情報
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【展示会出展情報】
■JASIS 2023
会期：2023年9月6日（水）～8日（金）
会場：幕張メッセ国際展示場
ブルカーブース：5B-903
■JASIS WebExpo（オンライン開催）
会期：2023年7月5日（水）10:00～2023年11月30日（木）17:00
※JASIS公式ホームページからログインできます
【資料掲載内容】
・マイクロプラスチックとは？
・なぜ、顕微赤外・ラマン分光法が有効か？
・ブルカーが選ばれ続ける理由
・マイクロプラスチックの検出と分析
・赤外分光法とラマン分光法のどちらを用いるか？
・マイクロプラスチック粒子分析に関する技術的概要
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■JASIS 2023
会期：2023年9月6日（水）～8日（金）
会場：幕張メッセ国際展示場
ブルカーブース：5B-903
■JASIS WebExpo（オンライン開催）
会期：2023年7月5日（水）10:00～2023年11月30日（木）17:00
※JASIS公式ホームページからログインできます
【資料掲載内容】
・マイクロプラスチックとは？
・なぜ、顕微赤外・ラマン分光法が有効か？
・ブルカーが選ばれ続ける理由
・マイクロプラスチックの検出と分析
・赤外分光法とラマン分光法のどちらを用いるか？
・マイクロプラスチック粒子分析に関する技術的概要
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【その他の特長】
■分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きソフトウェア
■作業性を高める長作動距離対物鏡と大きなサンプリングスペース
最大40mmの分厚い試料も測定可能
■分析対象物を確実に捉える、 広い観察視野と高品位な試料像
■すべてのコンポーネントを電動化、ソフトウェアによる集中制御
■透過、反射、ATR、すべての測定モードを完全自動化
■cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur.、21CFR Part 11など
各種医薬品関連規制に準拠
■完全自動化された OQ 、PQ、薬局方テストとPermaSure+機能が保証する
信頼性に優れる性能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きソフトウェア
■作業性を高める長作動距離対物鏡と大きなサンプリングスペース
最大40mmの分厚い試料も測定可能
■分析対象物を確実に捉える、 広い観察視野と高品位な試料像
■すべてのコンポーネントを電動化、ソフトウェアによる集中制御
■透過、反射、ATR、すべての測定モードを完全自動化
■cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur.、21CFR Part 11など
各種医薬品関連規制に準拠
■完全自動化された OQ 、PQ、薬局方テストとPermaSure+機能が保証する
信頼性に優れる性能
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【その他の掲載製品】
■高速イメージング対応 共焦点顕微レーザーラマン「SENTERRA II」
■白色干渉粗さ・非接触形状測定「NPFLEX」
■高性能 触針式プロファイリングシステム「DektakXT」
■トライボロジー評価試験機「UMT-TriboLab」
■ハイジトロン トライボインデンター「TI980」
■SEM/TEM 電子顕微鏡組込み型 ピコインデンターシリーズ「PI85L / PI89 / PI95」
■原子間力顕微鏡による電池電極測定「Dimension Icon」
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■高速イメージング対応 共焦点顕微レーザーラマン「SENTERRA II」
■白色干渉粗さ・非接触形状測定「NPFLEX」
■高性能 触針式プロファイリングシステム「DektakXT」
■トライボロジー評価試験機「UMT-TriboLab」
■ハイジトロン トライボインデンター「TI980」
■SEM/TEM 電子顕微鏡組込み型 ピコインデンターシリーズ「PI85L / PI89 / PI95」
■原子間力顕微鏡による電池電極測定「Dimension Icon」
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【その他の特長】
■OPUS TOUCHオペレーティング ソフトウェア
■RockSolid干渉計（寿命＞10年）
■CenterGlow光源（寿命＞5年）
■ダイオードレーザー（寿命＞10年）
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■OPUS TOUCHオペレーティング ソフトウェア
■RockSolid干渉計（寿命＞10年）
■CenterGlow光源（寿命＞5年）
■ダイオードレーザー（寿命＞10年）
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【製品特長】
<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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【製品特長】
<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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【製品特長】
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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【製品特長】
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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【製品特長】
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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【ALPHA-PHARMA 主な特長と仕様(抜粋)】
■堅牢性と可搬性を兼ね備える ALPHA FT-IR Platinum ATR付）
■直観性に優れるユーザーインターフェースによるシンプルかつシームレスな操作
■サイズ: W 22 x D 30 cm (サンプリングモジュール部を含む)
■重量: 約 7kg
■測定波数範囲: 7500 - 375 cm-1
■最高波数分解: 2 cm-1; オプション: 0.8cm-1
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■堅牢性と可搬性を兼ね備える ALPHA FT-IR Platinum ATR付）
■直観性に優れるユーザーインターフェースによるシンプルかつシームレスな操作
■サイズ: W 22 x D 30 cm (サンプリングモジュール部を含む)
■重量: 約 7kg
■測定波数範囲: 7500 - 375 cm-1
■最高波数分解: 2 cm-1; オプション: 0.8cm-1
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【製品特長】
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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【製品特長】
<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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<FT-IR スペクトロメータ：ALPHA II>
■A4サイズの超コンパクトボディ
■性能も妥協なし
■柔軟性に富むサンプリングツール
■多くの賞を受賞
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【会場案内】
横浜会場：ブルカージャパン横浜本社ラボ（B号ビル6階）
神奈川県横浜市神奈川区守屋町3-9
帯広会場：とかちプラザ（講習室402）
北海道帯広市西4条南13-1
※各会場、受付開始時刻は12:30となります。
※現地までの交通費はお客様負担でお願いします。
※申し込み多数の場合、1事業所あたり1名様などの調整をさせていただく場合もございます。
※フリーメールをご利用の方はご所属の確認のためにご連絡させていただく場合がございます。
※同業他社の方にはご参加をご遠慮いただいておりますのであらかじめご了承ください。
横浜会場：ブルカージャパン横浜本社ラボ（B号ビル6階）
神奈川県横浜市神奈川区守屋町3-9
帯広会場：とかちプラザ（講習室402）
北海道帯広市西4条南13-1
※各会場、受付開始時刻は12:30となります。
※現地までの交通費はお客様負担でお願いします。
※申し込み多数の場合、1事業所あたり1名様などの調整をさせていただく場合もございます。
※フリーメールをご利用の方はご所属の確認のためにご連絡させていただく場合がございます。
※同業他社の方にはご参加をご遠慮いただいておりますのであらかじめご了承ください。
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
