ブルカージャパン株式会社

オプティクス事業部

研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』

最終更新日: 2020/02/07
次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立

『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、
先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。

「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、
最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に
制御することができます。

これにより、遠赤外から可視/紫外までの幅広い領域をカバーすることが
可能となります。

【特長】
■新設計INTEGRAL干渉計
■5台の検出器に対応する革新的MultiTectテクノロジー
■ユーザーによる交換が可能なDigiTect検出器スロット
■専用検出器搭載、簡易透過/反射測定用Transitチャンネル第2試料室
■24ビットダイナミックレンジ・デュアルチャンネル ADC、
フルデジタル信号処理

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連動画

基本情報

【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視 / 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力X3、入力X2)
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー(カスタマイズ可能)
■乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能)
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

お問い合わせ

ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部へ、イプロスを通じてお問い合わせが可能です。
下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。お問い合わせ内容と共に、イプロスの会員情報が送信されます。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

FT-IR装置の製品・サービス一覧(54件)を見る