加工観察
アイテスでは、断面研磨・加工・観察・分析を行っております。
【Cheetah EVO導入事例】インダクタコイルの観察（直交CT観察）
電子部品、樹脂部品、ゴム部品、金属部品など、様々な用途に活用できます。
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】LED不良観察事例(X線透視観察)
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例
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2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】マイクロフォンの観察事例
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】リフローシュミレータ
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0製品カタログ
【事例集】X線透視・CT検査装置
最終更新日：
2024-07-19 11:05:54.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック
最終更新日：
2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
MLCCクラック X線観察
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2023-01-12 17:19:00.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】透過観察と画像処理技術の併用事例
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2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例
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2023-01-12 17:18:58.0技術資料・事例集
ワイヤーソーによる切断加工
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
アイソメットによるスライス加工
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
実装部品・電子部品の断面研磨サービス
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
表面実装電子部品の断面観察サービス
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
実装部品接合部の解析
機械研磨法・化学エッチング・イオンミリング、さらにFIB加工により、鉛フリー半田など各種金属接合部の解析を行うことができます。
最終更新日：
2023-01-12 17:18:20.0製品カタログ
フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析
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2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】Chip
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】高融点はんだ
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】ビア
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】パイプ
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
EBSD解析
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2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】鉄板
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
【EBSDによる結晶解析】BGA
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
【EBSDによる解析例】ネジ
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
EBSD法による解析例
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
EBSD法によるCu結晶解析
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
ウィスカ評価
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
Cuワイヤボンディングの接合界面について
最終更新日：
2023-01-12 17:19:24.0技術資料・事例集
【資料】Cuワイヤボンディングの接合界面について
最終更新日：
2023-01-12 17:19:24.0技術資料・事例集
EBSDによる解析例（セラミック）
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
超微⼩硬度計による材料評価
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】EBSDによるウイスカ解析
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
CCDカメラモジュールの断面加工観察
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2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
【資料】機械研磨法による加工ダメージ
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】太陽電池モジュールの断面観察
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】断面作製方法
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2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【不良解析事例】ACアダプターのX線観察
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2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
【EBSDによる解析例】カニカン
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2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
EPMAによる状態分析
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2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
EPMAによる微量元素の検出
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
EPMA分析
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
Liイオン電池セパレータの解析
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
【SEMによる破断面観察】カニカン
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
デジタルマイクロスコープによる外観観察
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2023-01-12 17:17:49.0技術資料・事例集
【観察事例】トグルスイッチのX線観察
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
ミクロトームによる断面作製
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2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
異物分析のための試料加工技術
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
ウィスカ観察
最終更新日：
2023-02-16 09:40:53.0技術資料・事例集
