最終更新日:
2020-08-31 09:13:05.0
良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します！
当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。
ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と
IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。
「良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション
顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。
【解析例】
■良品と静電気（ESD）破壊品の輝度と特性⽐較
・砲弾型LEDのレンズ部を研磨にて平坦化し、輝度比較を行ったところ、
ダークエリアが観察された
■エミッション顕微鏡による発光解析
・ESD破壊品は順バイアスでダークエリアが観察され、逆バイアスで
破壊箇所のみが発光した
■IR-OBIRCHおよびSEI解析
・ESD破壊品のIR-OBIRCH解析により詳細な破壊箇所が特定できた
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基本情報
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