最終更新日:
2020-11-11 17:25:41.0
微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます
『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。
製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。
光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では
明確に確認することが可能です。
しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。
【特長】
■蒸着不要
■簡易的に結晶粒が見える
■微細なクラックが見えやすい
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基本情報
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