最終更新日:
2024-02-26 16:13:33.0
高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価に最適
高密度マルチチャンネル パルスパターン発生器・ビットエラーテスター
光学電子部品や光トランシーバーでの特性の評価、テスト、設計用のパルスパターンを高密度かつマルチチャンネルで発生させます。またビットエラー検出することが可能です。電気信号試験装置と光学試験装置を組み合わせることで、製造環境におけるエンドツーエンド（end to end）のトランシーバーの検証を効率的に行うことができます。
●ビットエラーレートテスタ BERT 1000 シリーズ
最大14.5Gb/sのデータレートにおける光トランシーバー、光電気部品の設計・特性評価・製造向けの4チャンネルのパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器です。
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●PAM4 ビットエラーレートテスタ BERT 1102 シリーズ
8チャンネル PAM4およびNRZパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器。最大29Gbaudのシンボルレートでの光トランシーバおよび光学電子部品の設計、特性評価、製造に使用いただけます。
基本情報
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ●光トランシーバー製造テスト ●高速SerDes、クロック・データ・リカバリー、レーザードライバーのテストと特性評価 |
お問い合わせ
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株式会社日本レーザー
