最終更新日:
2024-04-23 13:53:47.0
2台のX線管を搭載！非常に幅広いニーズへの調査対応が可能です
本装置は、コンパクト設計の高分解能コンピュータ断層検査装置です。
小型～中型部品の調査に好適で、製品を非破壊により調査することが可能。
ヘリカルCTスキャンおよび再構成を実行する機能を備えており、試料が
縦長形状であっても、上から下までを高倍率で拡大した鮮明な画像を
取得できます。
また、スキャンの回転中心を選択できる仮想回転軸機能を備えていることで
観察が容易になり、検査時間の短縮が可能です。
【装置性能(一部)】
■試料サイズ：φ300×H500mm 重さ30kg
■X線管
・ナノフォーカストランスミッションX線管(190kV80W)
・高出力マイクロフォーカスX線管(225kV320W)
■検出器：16bitフラットパネル
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【対応製品】
■碍子
■電子基板
■エレクトロニクス部品
■IC部品
■新素材プローブ(金属、プラスチック)
■小型の金属部品
■電子デバイス
■小型の鍛造部品
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