株式会社クボタ計装

ウェハ表面欠陥検査装置(画像式)

最終更新日: 2024-10-23 16:17:20.0

  • カタログ

透明素材にも対応する高精度検査装置

微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で
透明体材料にも適用しております。
全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の
顕微鏡観察が可能な装置です。

■装置の特長
・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能
・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能
・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に
 観察、欠陥アルバムの作成が可能。
・結晶欠陥の検出機能を開発中

【検出】
方   式: 微分干渉顕微鏡を用いた画像解析方式
検出サイズ: 0.3um(対物レンズ10倍使用時)

【対象基板】
種   類: 透明体を含む各種基板
サ イ ズ: 4inch 、6inch、8inch、別途相談に応じます

【装置サイズ】
外形寸法 : W1,700 x D1,000 x H1,935 (mm)
質   量: 約800kg
価格情報 詳しくはお問い合わせください
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 K-IM-G100
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