半導体レーザを光源に使用した連続排ガス分析計です。
KEM レーザガス分析計KLA-1は半導体レーザを光源に使用した連続ガス分析計です。測定原理は、ガス分子の近赤外線領域の単一スペクトル吸収分光法を採用しています。この方式は原理的に選択性が高く、高感度で、安定性が良いという特長があります。さらに、サンプリング装置を必要としない試料非吸引方式(直接挿入方)の採用により、従来測定が困難であった高温、高圧、高腐食性ガスの条件下でのガス連続測定が可能で、応答時間が短く、プロセスコントロールに最適な装置です。
特徴
・単一吸収線分光分析を採用により選択性が良い。
共存ガスとの重なりの無い吸収線を選択し、単一吸収線吸収分光法を採用していますので干渉影響がほとんどありません。
・スペクトル変調の採用によりドリフトが無く、ダスト、窓の汚れの影響を受けません。半導体レーザの波長可変性を利用して、測定ガスの吸収帯の吸収の無い部分と吸収のピークの透過率の変化を常に検出していますので、ドリフトが無く、また、ダスト、窓の汚れの影響を受けません。
・温度圧力の影響を受けません。
試料ガスの温度、圧力が変化する場合、外部から温度、圧力の信号を入力することにより、特殊なアルゴリズムで、自動的にスペクトルの広がりの誤差を補正します。
・直接挿入方式の採用
直接挿入方式のため応答時間が短く、試料ガスの状態を変えずに測定ができるため、従来方式では測定が困難なガスも正確に測定することができます。
・操作が簡単で、消耗品はありません。
稼動部分が無いため、消耗品の交換は不要です。メンテナンスは3ヶ月ごとの光学部品の掃除と6ヵ月ごとのガス校正のみです。
・単一吸収線分光分析を採用により選択性が良い。
共存ガスとの重なりの無い吸収線を選択し、単一吸収線吸収分光法を採用していますので干渉影響がほとんどありません。
・スペクトル変調の採用によりドリフトが無く、ダスト、窓の汚れの影響を受けません。半導体レーザの波長可変性を利用して、測定ガスの吸収帯の吸収の無い部分と吸収のピークの透過率の変化を常に検出していますので、ドリフトが無く、また、ダスト、窓の汚れの影響を受けません。
・温度圧力の影響を受けません。
試料ガスの温度、圧力が変化する場合、外部から温度、圧力の信号を入力することにより、特殊なアルゴリズムで、自動的にスペクトルの広がりの誤差を補正します。
・直接挿入方式の採用
直接挿入方式のため応答時間が短く、試料ガスの状態を変えずに測定ができるため、従来方式では測定が困難なガスも正確に測定することができます。
・操作が簡単で、消耗品はありません。
稼動部分が無いため、消耗品の交換は不要です。メンテナンスは3ヶ月ごとの光学部品の掃除と6ヵ月ごとのガス校正のみです。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 |
お問い合わせください
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| 型番・ブランド名 | レーザガス分析計 KLA-1 |
| 用途／実績例 |
用途例 １）HCl計、O2計：廃棄物処理施設での消石灰の投入量のコントロール及び廃棄物焼却炉の燃焼コントロール ２）O2計：鉄鋼、冶金工事の各種炉の排ガス監視 |
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京都電子工業株式会社 東京支店
