【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査
TOF-SIMSによる高分子・樹脂･フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能
最終更新日：
2016-03-01 12:04:29.0技術資料・事例集
【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析_C0242
TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能
最終更新日：
2021-05-28 14:42:30.0技術資料・事例集
【分析事例】GCIB（Arクラスター）を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
最終更新日：
2016-03-01 11:39:52.0技術資料・事例集
【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験
加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+EDXなどで評価可能
最終更新日：
2018-03-16 16:08:25.0技術資料・事例集
【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法によるプラスチック及び添加剤の同定_C0216
TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析
最終更新日：
2021-05-27 18:03:58.0技術資料・事例集
Arイオンミリング加工
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
最終更新日：
2016-02-18 11:33:05.0製品カタログ
研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」
お客様からお預かりした材料・製品の機器分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供します。
最終更新日：
2024-04-03 10:00:31.0製品カタログ
【分析事例】有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
最終更新日：
2023-04-20 17:39:37.0
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