【分析事例】薄膜・バルク・粉末材料の組成・不純物分析_C0314
ICP-MSによるIGZOの主成分及び金属不純物元素の定量分析
最終更新日:
2021-06-01 18:38:50.0技術資料・事例集
【分析事例】SSDP-SIMSによるSi基板へのAl,Gaの拡散評価_C0267
SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定
最終更新日:
2021-05-28 17:09:48.0技術資料・事例集
【分析事例】SiC Schottky Barrier Diodeのフォトルミネッセンスマッピング測定
SiC中積層欠陥の検出事例
最終更新日:
2016-03-09 14:45:22.0技術資料・事例集
【分析事例】ステンレス(SUS)不動態皮膜の深さ方向状態 評価と酸化膜厚評価_C0263
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
最終更新日:
2023-03-29 12:25:46.0技術資料・事例集
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