カタログ

【分析事例】試料濃縮針による揮発性成分の濃縮分析

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

最終更新日： 2016-04-01 11:50:38.0技術資料・事例集

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ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法_B0225

ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法

最終更新日： 2021-05-13 18:18:25.0技術資料・事例集

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【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析

TOF-SIMSにより染料・顔料由来の分子情報の可視化が可能

最終更新日： 2019-07-29 14:10:11.0技術資料・事例集

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【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析

2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能

最終更新日： 2016-03-22 13:43:57.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-25 14:23:58.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-03-18 13:18:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

最終更新日： 2016-08-25 11:37:12.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-18 13:05:39.0技術資料・事例集

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【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価_C0410

Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

最終更新日： 2023-04-10 16:13:47.0技術資料・事例集

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価_C0409

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

最終更新日： 2023-04-10 14:22:57.0技術資料・事例集

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【分析事例】粉体異物の定性分析

手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です

最終更新日： 2016-03-18 11:42:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】溶解再沈法による高分子材料の添加剤評価

LC/MS・LC/MS/MSによる成分の定性

最終更新日： 2018-03-19 14:58:02.0技術資料・事例集

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【分析事例】高分子材料の添加剤評価

LC/MSによる成分の定性

最終更新日： 2016-03-18 11:31:34.0技術資料・事例集

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【分析事例】イオン化法ESI・APCIによる検出成分の違い

LC/MS：液体クロマトグラフィー質量分析法

最終更新日： 2016-08-25 11:25:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】ニッケルめっき剥離面の評価

めっきの剥がれ、密着不良をTOF-SIMS分析で原因調査

最終更新日： 2023-04-20 16:38:50.0技術資料・事例集

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【分析事例】TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析

TDS：昇温脱離ガス分析法

最終更新日： 2017-08-11 14:32:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

最終更新日： 2016-03-18 10:32:08.0技術資料・事例集

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【分析事例】SiC Planer Power MOSFETのSCMおよびSMMによる拡散層評価

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

最終更新日： 2017-03-01 10:35:33.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子の劣化評価

雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

最終更新日： 2016-08-24 14:27:31.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL発光層の成分分析_C0112

雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

最終更新日： 2021-05-20 17:37:16.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価_C0088

雰囲気制御下での加工で酸化劣化を防止

最終更新日： 2021-05-19 17:18:42.0技術資料・事例集

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【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能

最終更新日： 2017-08-11 14:10:55.0技術資料・事例集

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【分析事例】アルミホイル表面の成分分析

光沢面・つやなし面の違いを評価

最終更新日： 2017-03-01 10:32:53.0技術資料・事例集

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【分析事例】Siウエハの保管状態による表面汚染評価

フッ酸処理で酸化膜を除去したSiウエハの汚染・酸化の評価

最終更新日： 2016-03-17 13:44:06.0技術資料・事例集

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【分析事例】エッセンシャルオイル中のにおい成分の評価

固相マイクロ抽出(SPME) を用いたにおい成分の濃縮分析

最終更新日： 2019-07-29 14:10:53.0技術資料・事例集

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【分析事例】熱分解GCMSによる空気中高温加熱時の発生ガス分析

酸素存在下での熱分解挙動の追跡が可能

最終更新日： 2016-03-17 13:05:33.0技術資料・事例集

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【分析事例】化学分解－GC/MS法によるポリウレタンの分析

試料冷却により塗料中の添加剤の形状と成分、および分散状態を評価

最終更新日： 2016-03-17 12:58:21.0技術資料・事例集

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【分析事例】導電性塗料中の成分の分析

試料冷却により塗料中の添加剤の形状と成分、および分散状態を評価

最終更新日： 2016-03-17 12:51:58.0技術資料・事例集

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【分析事例】塗料と基材界面の状態観察

試料冷却により塗料の基材への塗布状態を評価

最終更新日： 2016-03-17 13:27:33.0技術資料・事例集

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【分析事例】溶液中の窒素成分の評価

無機窒素を形態別に分析可能です

最終更新日： 2016-03-16 15:09:40.0技術資料・事例集

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【分析事例】揮発性有機化合物（VOC）P&Tによる微量成分の検出

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

最終更新日： 2016-03-16 15:02:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】農薬一斉分析法の開発

対象の成分についてオーダーメイドの分析法を開発します！

最終更新日： 2016-08-25 11:22:00.0技術資料・事例集

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【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:29:57.0

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【分析事例】SiC表面の結合状態・膜厚評価_C0394

XPSによる詳細な結合状態評価と膜厚計算

最終更新日： 2021-06-10 14:24:01.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

最終更新日： 2016-03-16 13:10:16.0技術資料・事例集

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極点測定_B0213

XRD：X線回折法

最終更新日： 2023-03-29 17:14:19.0技術資料・事例集

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【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定

XRD：X線回折法

最終更新日： 2023-03-29 17:03:44.0技術資料・事例集

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【分析事例】Liの結合状態分析_C0389

他元素を波形解析することでLiの結合状態別存在比を算出出来ます

最終更新日： 2021-06-10 14:19:47.0技術資料・事例集

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【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察_C0390

Csコレクタ付STEMによる高分解能STEM観察

最終更新日： 2023-04-07 18:06:52.0技術資料・事例集

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【分析事例】燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察

XPS・SEM・TEMを用いた多角的な評価

最終更新日： 2016-03-16 11:28:07.0技術資料・事例集

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【分析事例】消臭剤の効果測定

GC/MSにより、タバコ臭に対する消臭剤の効果を測定

最終更新日： 2016-03-16 11:22:02.0技術資料・事例集

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【分析事例】TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価_C0386

STEM・EDXによる触媒粒子の評価

最終更新日： 2021-06-10 14:15:35.0技術資料・事例集

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【分析事例】固体高分子燃料電池　触媒材料の形態観察・成分分析

SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価

最終更新日： 2016-03-16 09:41:22.0技術資料・事例集

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XPS・AESによる深さ方向分析の比較_B0211

XPS： X線光電子分光法　AES： オージェ電子分光法

最終更新日： 2021-05-13 18:12:09.0技術資料・事例集

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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:59:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

最終更新日： 2017-08-11 14:30:05.0技術資料・事例集

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【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

低ダメージで表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

最終更新日： 2022-10-13 09:57:44.0技術資料・事例集

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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

最終更新日： 2016-03-15 14:59:10.0技術資料・事例集

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【分析事例】Si表面のH終端の解析

処理の違いによるSi表面のSiHや状態の定性・相対比較

最終更新日： 2016-08-24 14:33:58.0技術資料・事例集

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【分析事例】GaN膜の組成・結合状態分析_C0381

X線源を選択することで目的に合わせた評価が可能です

最終更新日： 2021-06-10 14:02:07.0技術資料・事例集

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【分析事例】DLC膜のsp2(sp2+sp3)比の評価_C0380

ＸＰＳのC1s波形解析からの分離

最終更新日： 2021-06-10 13:51:24.0技術資料・事例集

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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:29:24.0技術資料・事例集

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【分析事例】AESの異物分析における注意点　電子線による異物消失リスク

AES：オージェ電子分光法

最終更新日： 2016-03-15 14:21:43.0技術資料・事例集

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【分析事例】DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比高精度定量化

XAFSによる高精度解析

最終更新日： 2019-07-29 14:09:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析_C0374

ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能

最終更新日： 2023-04-07 17:01:31.0技術資料・事例集

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【分析事例】最表面シラノール基の評価_C0377

TOF-SIMSでシラノール基の定量的な評価が可能です

最終更新日： 2023-04-07 17:35:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価

GCIB（Arクラスター）を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

最終更新日： 2016-03-15 13:46:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価_C0373

TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

最終更新日： 2023-04-07 16:37:11.0技術資料・事例集

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【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い_C0372

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

最終更新日： 2023-04-07 16:10:55.0技術資料・事例集

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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析_C0363

下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

最終更新日： 2021-06-09 11:20:58.0技術資料・事例集

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