【分析事例】二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価容量低下の要因となるSEI被膜のマッピング評価・化学状態評価が可能です。 最終更新日: 2022-10-13 09:56:48.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
ラマンマッピングによる有機膜の組成分布評価有機成分の面内分布を可視化可能です 最終更新日: 2021-01-28 13:55:10.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
ネガティブ染色による(S)TEM観察事例リポソーム、CNF、微粒子、タンパク質などの形態観察 最終更新日: 2020-12-25 11:01:40.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
電子染色を用いた 高分子材料の(S)TEM観察SEM-STEM・(S)TEMによる高分子材料の観察事例 最終更新日: 2020-12-09 11:28:36.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価_C0689深層学習×データ解析により、多量のデータを活用して試料特性を評価できます 最終更新日: 2023-03-09 14:18:01.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析_C0690深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました 最終更新日: 2023-03-09 14:27:49.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】ノーマリーオフ型 GaN HEMT 二次元電子ガス層評価_C0702製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です 最終更新日: 2023-11-30 11:55:59.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所の複合解析_C0707デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供 最終更新日: 2024-04-04 10:18:18.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view_3D-SEM_による故障解_C0710SEM像の3D化でリークパスを確認 最終更新日: 2024-05-23 14:47:39.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析_C0711Slice&Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可能 最終更新日: 2024-05-23 15:48:55.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み