[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)EDXは、電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です 最終更新日: 2016-02-18 13:25:02.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[EBIC]電子線誘起電流EBIC信号を測定することにより試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができます 最終更新日: 2016-02-18 13:29:39.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
走査イオン顕微鏡とは_B0003SIM:Scanning Ion Microscope 最終更新日: 2021-05-13 12:04:34.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することにより、物質の構成元素や電子構造を分析する方法です 最終更新日: 2019-07-30 09:23:35.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です 最終更新日: 2019-07-29 14:29:47.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[SEM]走査電子顕微鏡法電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です 最終更新日: 2018-09-13 14:05:42.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[AES]オージェ電子分光法電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です 最終更新日: 2019-07-29 14:28:57.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像して高倍率で観察する手法です 最終更新日: 2019-08-16 10:09:51.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
集束イオンビーム質量分析法_A0079FIB-MS :Focused Ion Beam Mass Spectrometry 最終更新日: 2021-10-07 17:51:39.0技術資料・事例集 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
電子プローブマイクロアナライザー_A0076EPMA:Electron Probe Micro Analyzer 最終更新日: 2021-07-22 14:08:47.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
NMR核磁気共鳴分析_A0075NMR:Nuclear Magnetic Resonance 最終更新日: 2021-05-13 12:18:41.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価培養ヒト皮膚の様々な評価(形態観察、成分の分布評価、定量分析)が可能です 最終更新日: 2021-03-25 13:25:53.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み