![B0247_AFMデータ集.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/ecc/452975/IPROS8606273618279498832.jpg?w=100&h=100)
![LSI・メモリ.jpg](https://images.ipros.jp/public/premium/image_category/099/387108/IPROS991212718823621968.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】LSI・メモリ
LSI・メモリの分析事例をご紹介します
![B0247_AFMデータ集.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/ecc/452975/IPROS8606273618279498832.jpg?w=100&h=100)
![C0550_ARXPS_角度分解XPS_による極薄膜の組成分布評価_A.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/02c/454999/IPROS65473935137286143072.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価_C0550
基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です
最終更新日:
2021-06-14 16:09:14.0技術資料・事例集
![C0549_XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/83a/455299/IPROS14109012220516921398.jpg?w=100&h=100)
![c0461.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/84f/369266/IPROS2891444313489068212.jpg?w=100&h=100)
![c0449.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/b38/360442/IPROS17101712566208493965.jpg?w=100&h=100)
![b0196.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/c47/335101/IPROS68887433877989795708.jpeg?w=100&h=100)
![c0270.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/896/334779/IPROS17420989001213370696.jpg?w=100&h=100)
![c0262.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/c2c/334599/IPROS71066921457085738092.jpeg?w=100&h=100)
![C0261_シリコン(Si)酸化膜の状態評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/165/334597/IPROS45782591449198872674.jpeg?w=100&h=100)
![](https://images.ipros.jp/public/default/object/noimage_l.gif?w=100&h=100)
![C0558_STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/02e/458116/IPROS12397552870945855898.jpg?w=100&h=100)
![C0557_STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f98/458109/IPROS04999786861789725015.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析_C0557
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
最終更新日:
2021-05-27 16:33:24.0技術資料・事例集
![C0559_分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜の構造解析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/510/458875/IPROS3193175461719394399.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜構造解析
シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です
最終更新日:
2019-04-01 16:59:39.0技術資料・事例集
![C0543_SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/50f/462659/IPROS54104855182947527762.jpeg?w=100&h=100)
![C0542_DRAMチップの解析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/957/462657/IPROS338491209160052852.jpg?w=100&h=100)
![C0545_走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/e97/462661/IPROS13094902555710752792.jpg?w=100&h=100)
![C0536_貼り合せウエハ内部の空隙調査.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/46b/453590/IPROS93081935461305146029.jpeg?w=100&h=100)
![C0532_セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/46d/452947/IPROS54370309331628741883.jpeg?w=100&h=100)
![C0301_SiN膜中水素の結合状態別の定量.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/326/334778/IPROS37286742541102904089.jpeg?w=100&h=100)
![C0035_有機成分洗浄効果の評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/985/334718/IPROS43850937915598611683.jpeg?w=100&h=100)
![C0239_高温XRDによる熱分解生成物の同定.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/2cc/333640/IPROS89117260700009678308.jpeg?w=100&h=100)
![C0217_白色粉体の複合分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/0fc/333568/IPROS10590112827420164004.jpeg?w=100&h=100)
![C0200_熱履歴を考慮した異物の成分同定.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/271/333237/IPROS94581225343160801898.jpeg?w=100&h=100)
![C0004_二酸化ケイ素の構造解析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/bb5/210260/IPROS60345336425792396713.jpeg?w=100&h=100)
![C0077_Siウエハベベル部の汚染評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/513/210243/IPROS86497374366220275678.jpeg?w=100&h=100)
![C0117_半導体基板中軽元素の高感度分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/279/210236/IPROS75735354622890096042.jpeg?w=100&h=100)
![C0153_バイポーラトランジスタ(IGBT)の不良品調査.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/e68/210211/IPROS19142677058966158667.jpeg?w=100&h=100)
![C0047_Cu表面のXPSによる酸化状態評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/08b/210177/IPROS50892585294681777781.jpeg?w=100&h=100)
![C0576_低分子シロキサンの定量分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/94a/482187/IPROS72133624987806573279.jpeg?w=100&h=100)
![C0578_α-アルミナ(α-Al2O3)のTDS分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/956/483699/IPROS29524071205954282577.jpeg?w=100&h=100)
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