日本カンタム・デザイン株式会社

【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

最終更新日: 2024-01-11 17:25:35.0
弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します!

弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、
半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。

基本情報

【表面検査】
◆原子間力走査型電子顕微鏡(AFM&SEM in situ測定) by Quantum Design North America
◇原子間力顕微鏡(AFM) by Nanosurf
◆散乱型近接場光赤外顕微鏡(Nano-FTIR) by attocube
◇ワンショット3D測定装置 by Lyncee tec

【半導体プロセス向け】
◆マスクレス露光装置 by DMO
◇レジスト by Allresist

【精密位置制御】
◆電動リニアステージ・ロータリステージ・電動リニアアクチュエータ等 by ZABER

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ◆半導体ウエハ表面検査
◇半導体製造プロセス

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