EDS(エネルギー分散型X線分光法)による元素分析のご紹介SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。 最終更新日: 2022-11-24 14:43:57.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
EMCコンサルティングECUと車両の設計から評価でのお困りごとに対応!EMC対策は「プロ」にお任せください 最終更新日: 2022-11-24 14:44:45.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。 最終更新日: 2022-11-25 10:05:38.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
EBSD(電子線後方散乱回折法)を利用した結晶解析とは試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。 最終更新日: 2022-11-25 10:06:35.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【試験】高温での使用が予想される部品の高温せん断強度試験を実施接合強度試験。チップ部品のはんだ強度や、ダイボンドチップの接合強度などを対象に評価します。350℃までの評価実績があります。 最終更新日: 2022-11-28 15:55:41.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【塵埃試験(浮遊式)】JIS規格に準拠する自社開発設備です塵埃環境が厳しい自動車のエンジンルームなど、活用環境に合わせた耐塵埃性を評価することを目的とした試験です。 最終更新日: 2022-12-20 14:02:36.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【故障解析事例】静電気破壊の再現実験プラズマFIB装置を用いて断面を観察!広く破壊されている様子が確認された事例 最終更新日: 2023-04-05 16:20:32.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化を目指しています 最終更新日: 2023-04-20 10:42:33.0 お問い合わせ/資料請求
高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置わずか数分の高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置しております。 最終更新日: 2023-05-01 14:30:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能となりました 最終更新日: 2023-05-19 15:15:51.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
環境試験から車載ネットワーク評価までの一貫提案ECUテストの工数削減!BCM・メーター・空調コントローラ・ドアロックなどが評価対象です 最終更新日: 2023-06-07 15:03:01.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
電子部品の急速温度サイクル試験温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します 最終更新日: 2023-06-07 21:14:00.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
プラズマFIB-SEMの加工~分析性能と実例~100μm以上でも加工可能!ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・分析ができます 最終更新日: 2023-06-14 17:52:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTの分析原理および特長とその観察例材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価!3D画像化して検査することができます 最終更新日: 2023-06-21 14:40:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入 最終更新日: 2023-07-05 09:28:07.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術熱負荷試験後の試料や熱に弱い素材、試料をもCP加工可能としました! 最終更新日: 2023-07-20 10:41:09.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード:9165)に上場いたしました 最終更新日: 2023-08-01 15:54:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
電源回路 負サージ試験(フィールドディケイ試験)自動車に使用される電子機器の負サージ耐量を評価する試験です。 最終更新日: 2023-08-23 10:58:02.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
TDDB(酸化膜破壊)試験寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要 最終更新日: 2023-09-08 15:27:58.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
難めっき素材へのめっき密着さまざまな基材を用いて、アンテナ/フィルタ/機構部材などを提供することが可能 最終更新日: 2023-09-14 14:01:56.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード