プラズマFIB-SEMの加工～分析性能と実例～100μm以上でも加工可能！ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・分析ができます 最終更新日： 2023-06-14 17:52:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTの分析原理および特長とその観察例材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価！3D画像化して検査することができます 最終更新日： 2023-06-21 14:40:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】より良い観察の提案が可能！高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入 最終更新日： 2023-07-05 09:28:07.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード：9165)に上場いたしました 最終更新日： 2023-08-01 15:54:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化 最終更新日： 2024-02-20 09:40:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
促進耐候性試験：サンシャインウェザメータJIS・ISOをはじめ多くの規格に規定！安定した分光放射照度分布で試験再現性に優れる 最終更新日： 2024-05-16 11:41:32.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【導入事例】高分解能観察と分析機能の両立を実現したFE-SEM最大200nAの照射電流は、各種マイクロアナリシスに対応！分析能力も強化 最終更新日： 2024-07-09 10:41:12.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
