株式会社クオルテック

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

最終更新日: 2023-11-01 11:20:12.0
試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素!

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。

パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により
Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の
熱ストレスに対し、その耐久性を確認する試験。

試験では、半導体チップの温度(Tj)を測定する必要があります。Tjの測定は、
PN接合に電流を流したときの電圧が温度によって変化する特性を利用します。

【Tj(チップ温度)測定法の種類(抜粋)】
■Vf法1:内蔵ダイオード、ボディダイオード
■Vf法2:感温ダイオード
■Vth法:IGBT、MOSFET
■Vds法1:IGBT
■Vds法2:IGBT、MOSFET、ダイオード

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社クオルテック

製品・サービス一覧(129件)を見る