最終更新日:
2024-03-05 13:19:20.0
複数個のDUTの同時試験が可能！要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ
当社では、二年間でおよそ100種類以上のパワーサイクル試験を受託しており、
この間に蓄積されたノウハウを活かしたパワーサイクル試験装置を
開発、製造、販売することになりました。
近年、HEVなどの車載用を中心に産業用機器や発電装置など、パワー半導体が
幅広い分野で使用されるようになり、開発競争も激しくなっています。
その市場背景を反映し、安価で高性能なパワーサイクル試験装置のご要望を
頂くようになりました。
【特長】
■デバイスの破壊の前兆を検知し、破壊に至る前に試験を停止させることが可能
その結果、破壊初期のサンプルを確保することが可能
■要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ
■タイムシェアリング方式による複数個のDUTの同時試験が可能
■パワーサイクル試験規格(ED4701/600)の試験が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他特長】
■対象デバイス：MOSFET, SJFET, IGBTその他パワーデバイス(GaN, SiC)
■設定ON時間：ご希望の条件に合わせます
■設定冷却時間：ご希望条件に合わせます
■設定サイクル数：1,000,000以上
■冷却方式：水冷または空冷
■印加電流：1,200Aまで
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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