最終更新日:
2024-04-16 12:08:02.0
当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です！
『HAST(PCT)』は、樹脂封止された半導体等の電子部品を通常の使用環境より
高い水蒸気圧の雰囲気に晒すことにより、短時間に供試品の内部に水分を
侵入させ、樹脂封止の気密性を評価することを目的にした試験です。
その試験のうち、JIS C 60068-2-66の不飽和加圧水蒸気における
通電試験も可能。
当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です。
【概要】
■HAST(不飽和加圧蒸気試験)
・電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と
湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法が
とられており、並列複合試験の代表的な試験方法
■PCT(飽和加圧蒸気試験)
・飽和水蒸気での高温試験で、HAST以上に厳しい試験条件設定が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【設備】
■HAST(PC)試験 ETAC HAST Chamber PM420
■HAST(PCT)EHS-411M
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【試験用途】 ■HAST、PCT、通電試験、マイグレーション試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社クオルテック
