最終更新日:
2024-12-10 15:28:30.0
観察・解析のみの対応も可能！必要に応じて組合わせたプランをご提案
当社では、基板故障の大きな要因になるマイグレーション現象に対し
環境試験・観察・解析によりトータルでご提案します。
初期観察や環境試験、専用冶具を使用しての実装済み部品の素子剥がし、
試験後の観察・撮影など、必要に応じてプランを組み合わせます。
観察・解析を取り扱う品目については、電子部品や一般の電子機器が多数を
占めますが、様々なマイグレーションの発生状況に対応してご提案可能です。
ご要望の際は当社までお問い合わせください。
【プラン】
■初期観察：蛍光実体顕微鏡、蛍光金属顕微鏡など
■環境試験：高温高湿槽、プレッシャクッカ 各試験
■必要に応じて、専用冶具を使用しての実装済み部品の素子剥がし
■試験後、イオンマイグレーション発生の有無チェック
■必要に応じて、走査型電子顕微鏡(SEM)などを使用しての詳細調査
■観察・分析結果のまとめ、報告書作成
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【保有設備】
■蛍光実体顕微鏡(Leica製：M205FA)
■デジタルマイクロスコープ(Hirox製：KH-8700)
■走査電子顕微鏡(JEOL製：JSM-6390)
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
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