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最終更新日:
2024-12-23 15:30:54.0
通常の動作での寿命を予測!環境温度やスイッチング周波数等を任意に設定できる
当社で行っているパワー半導体における信頼性評価では、一般的な半導体の
評価試験とは別に個別試験が実施されます。
動作寿命試験として、パワーサイクル試験、連続通電試験、高低温逆バイアス
試験に加え、高低温下でのスイッチング試験が実施される場合があります。
ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。
【特長】
■環境温度、印加電圧やスイッチング周波数を任意に設定可能
■放熱対策などご要望に合わせた対応が可能
■試験前後や途中取り出ししての電気特性測定も対応できる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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