サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

半導体製造プロセスの微量分析に貢献する イオンクロマトグラフィーメソッド

最終更新日: 2022-11-22 13:52:22.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

微量イオン、遷移金属の測定などプロセス汚染を迅速に特定 高い分離性能、確立された手法による高品質な分析結果
半導体製造プロセスや完成したデバイスにとって、イオン汚染は腐食、浸食、短絡の原因となる恐れがあるため、大きな懸念です。
イオンクロマトグラフィー(IC)は、半導体業界におけるさまざまなプロセス汚染物質の微量成分と、主要成分を迅速に測定できる効率
的な分析手法です。当社のイオンクロマトグラフィーシステムがどのように活用できるかをご紹介いたします。
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