「モノづくり」には、「分析力」のサポートが重要になります。
巴川分析センターはお客様のコスト・スピード感を理解し、
問題解決型の分析提案をする様努めています。
分析の必要性を感じているが
どうしたらよいかお困りな場合には
是非ご相談下さい。
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問題解決型の分析提案をする様努めています。
分析の必要性を感じているが
どうしたらよいかお困りな場合には
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最終更新日:
2024-03-28 15:39:37.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得意です！
FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。
FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。
7μm×2μmの異物を断面化してSEM（電子顕微鏡）よる画像解析、EDSによる元素分析を行いました。
カタログは、FIBにより狙った微小領域を断面化し、断面SEM写真や元素分析による微小混入異物を調査した事例を紹介します。
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株式会社巴川コーポレーション
