半導体レーザの縦モード分析に最適 各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長: 330 .. 3000 nm
・半導体レーザの縦モード分析に最適
・各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長: 330 .. 3000 nm
・FSR:1 GHz
・フィネス > 200 (典型値 > 400)
FPI 100はコンフォーカル・ファブリペロー型干渉計とディテクタユニットを丈夫でコンパクトなアルミ製ハウジングに一体化したスキャニング型干渉計です。CW光のスペクトル解析手法として確立されている走査型ファブリペロー干渉計と高分解能で簡単操作を可能にするコンフォーカル光学系の利点を一体化したスぺクトルアナライザとしてご使用頂けます。 FPI は波長範囲330~3000 nm において各種のミラーセットとフォトディテクターをご用意しています。標準で反射率(99.8%)の高反射ミラーを採用しフィネス> 400を実現しています。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | CWレーザー光のスペクトル解析 |
詳細情報
交換用ミラーセット・検出器、スキャンコントローラなど豊富なアクセサリ類をご用意。他波長レンジへのスケールアップを簡単に行えます。
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トプティカフォトニクス株式会社 営業部