株式会社ワイ・ドライブ

FPDバックプレーン酸化物TFT用_TEG評価装置

最終更新日: 2018/10/27

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2018/10/27

最大±60V印加プログラマブル電源/電源ハイサイドをnA電流計測 ◎ご相談ください。各種ノウハウの提供が可能です
有機ELパネルやフレキシブル有機ELパネルではLTPS技術から酸化物半導体TFTへ技術の転換が必須です!。酸化物半導体TFTの信頼性評価にTEG評価装置を提供します
・完全プログラマブル・パルス電圧設定
電圧印加機能(最大±60V) 設定最大電圧+60.0V設定最小電圧-60.0V
設定分解能 0.1V 立上り時間 0.2μS 最大出力電流 10mA
プログラマブル電圧設定4種類
・±60V電源のハイサイド電流 nA/μA電流計測
測定最大電流2mA 測定最小電流1μA  測定分解能 0.5nA
計測立上り時間 1μS ※サンプルホールド付き
・パソコンによる完全プログラマブル計測系を実現しました
 ユーザーはパソコン/EXCEL様APIで自由にテスト条件を設定記述
・EXCEL様式に似たコマンド記述テストAPIで実行
・完全ユーザー・プログラマブル実行
・計測系15bitADC搭載  ・0.5μSタイムスライス記述
・テストステーションにペルチェ可能
・テスト結果保存     ・連続200時間実行

関連情報

FPDバックプレーン酸化物TFT用_TEG評価装置
FPDバックプレーン酸化物TFT用_TEG評価装置 製品画像

・最大±60V印加プログラマブル電源 ⇒ TEGあたり10個
・±60V電源のハイサイド電流 nA/μA電流計測系
・パソコンによる完全プログラマブル計測系を実現しました
 ユーザーはパソコン/EXCEL様APIで自由にテスト条件を設定記述


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