新しいSAXSpaceは、アントンパール社の従来機器と同様に高精度かつ高速な測定が可能な、モジュール型ナノ構造分析装置です。オプションの選択肢及びアプリケーションの幅を大きく広げ、よりシンプルな操作を実現したユニークな新機能を搭載しています。
最終更新日:
2021-04-21 11:00:19.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
圧倒的なX線強度で液体/ペーストを素早く分析 SAXSpace
SAXSpaceシステムは、特に生体試料(BioSAXS)、界面活性剤、ナノ粒子の分散液など、大量のサンプルを日常的に分析する際に力を発揮します。
最先端のソフトウェア及びデータ分析と組み合わせることで、SAXSpaceは複数のナノ構造サンプルをすばやく簡単に分析します。
【パワフルなX線 – 短時間で良質な測定データ】
SAXSpaceは、アントンパール社の強力なPrimux3000 X線源とAXO Dresden社の洗練された光学系を採用しています。この組み合わせにより、強度の高い単色X線ビームが確保されます。
SAXSの「生みの親」であるオットー・クラツキー教授とアントンパール社が1950年代に初めて共同開発したブロックコリメーションは、省スペースながら寄生散乱を極限まで低減した高強度のX線ビームを生み出し、サンプルの広範囲に照射されることで非常に短い測定時間と高いS/N比が実現します。
この機構を採用したSAXSpaceでは、短時間で高品質のSAXS及びWAXSデータを得ることができます。
関連情報
材料の分析、合成、サンプル調製、ならびにプロセス計測用の高品質・高精度な製品を開発製造、最高水準の精度と卓越した剛性で高く評価されており、全世界の産業・研究分野で広く使用されています。
【主な製品カテゴリ】
○密度・比重および濃度の測定
○飲料の分析
○旋光度測定
○屈折率測定
○粘度測定
○粘弾性測定
○プロセス機器
○マイクロ波合成技術
○前処理装置
○固体表面分析
○X線構造解析装置
●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
【主な製品カテゴリ】
○密度・比重および濃度の測定
○飲料の分析
○旋光度測定
○屈折率測定
○粘度測定
○粘弾性測定
○プロセス機器
○マイクロ波合成技術
○前処理装置
○固体表面分析
○X線構造解析装置
●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
・測定モード： SAXS、 WAXS、 BioSAXS、 SEC-SAXS
・q範囲： 0.03 nm^-1 ～ 24.5 nm^-1 (※1)
・観測可能な面間隔： 0.15 nm ~ 209 nm
・Ｘ線源： Primux 3000 sealed tube X-ray source (Cu、 Mo)
・検出器：Dectris社製 Mythen2 R 1K
・温度範囲： -150℃ ~ +600℃
・雰囲気： 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
（※1 オプションの2次元検出器搭載時は最大40.7 nm^-1）
・フットプリント (L x W)：1800 x 900 mm
【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・湿度制御ステージ
・回転モジュール
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）
・q範囲： 0.03 nm^-1 ～ 24.5 nm^-1 (※1)
・観測可能な面間隔： 0.15 nm ~ 209 nm
・Ｘ線源： Primux 3000 sealed tube X-ray source (Cu、 Mo)
・検出器：Dectris社製 Mythen2 R 1K
・温度範囲： -150℃ ~ +600℃
・雰囲気： 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
（※1 オプションの2次元検出器搭載時は最大40.7 nm^-1）
・フットプリント (L x W)：1800 x 900 mm
【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・湿度制御ステージ
・回転モジュール
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）
・温度範囲： 下記またはカタログを参照ください。
・雰囲気： 空気、不活性ガス、真空（一部、反応性ガスに対応）
・測定配置：反射または透過（製品ごとに異なります）
・製品の詳しい情報はお問い合わせください
【ラインナップ】
直接加熱方式
・HTK2000N (室温 ~ 2300℃)
・HTK16N (室温 ~ 1600℃)
・TTK600 (-190 ~ 600℃)
・CHC plus+ (-180 ~ 400℃、 湿度制御可能)
・BTS500 (室温 ~ 500℃、 卓上XRDに対応)
・BTS150 (-10 ~ 150℃、 卓上XRDに対応)
・DHS1100 (室温 ~ 1100℃、 4軸回折計に対応)
・DCS500 (-180 ~ 500℃、 4軸回折計に対応)
非接触加熱方式
・HTK1200N (室温 ~ 1200℃、 キャピラリー装着可能)
・XRK900 (室温 ~ 900℃、 反応性ガス使用可能)
各製品の特徴はカタログをご覧ください。
・雰囲気： 空気、不活性ガス、真空（一部、反応性ガスに対応）
・測定配置：反射または透過（製品ごとに異なります）
・製品の詳しい情報はお問い合わせください
【ラインナップ】
直接加熱方式
・HTK2000N (室温 ~ 2300℃)
・HTK16N (室温 ~ 1600℃)
・TTK600 (-190 ~ 600℃)
・CHC plus+ (-180 ~ 400℃、 湿度制御可能)
・BTS500 (室温 ~ 500℃、 卓上XRDに対応)
・BTS150 (-10 ~ 150℃、 卓上XRDに対応)
・DHS1100 (室温 ~ 1100℃、 4軸回折計に対応)
・DCS500 (-180 ~ 500℃、 4軸回折計に対応)
非接触加熱方式
・HTK1200N (室温 ~ 1200℃、 キャピラリー装着可能)
・XRK900 (室温 ~ 900℃、 反応性ガス使用可能)
各製品の特徴はカタログをご覧ください。
・測定モード： SAXS、 WAXS、 USAXS、 GISAXS、 BioSAXS、 RheoSAXS、 UV-VisSAXS、 etc
・q範囲： 0.01 nm^-1 ～ 49.3 nm^-1
・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm
・Ｘ線源：Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr)
・検出器：Dectris社製 Eiger2 R 1M
・温度範囲: -150℃ ~ +600℃
・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
・フットプリント (L x W) : 3600 x 900 mm
【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・せん断ステージ
・湿度制御ステージ
・RheoSAXSモジュール
・USAXSモジュール
・回転モジュール
・バッテリーセル
・FTIRセル
・UV-Visセル
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）
・q範囲： 0.01 nm^-1 ～ 49.3 nm^-1
・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm
・Ｘ線源：Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr)
・検出器：Dectris社製 Eiger2 R 1M
・温度範囲: -150℃ ~ +600℃
・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
・フットプリント (L x W) : 3600 x 900 mm
【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・せん断ステージ
・湿度制御ステージ
・RheoSAXSモジュール
・USAXSモジュール
・回転モジュール
・バッテリーセル
・FTIRセル
・UV-Visセル
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）
・q範囲： SAXSpoint 5.0の性能を参照ください。
・温度範囲： -10℃ ~ 90℃
・対応試料 ：水を分散媒とする各種溶液、ペースト
・温度範囲： -10℃ ~ 90℃
・対応試料 ：水を分散媒とする各種溶液、ペースト
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社アントンパール・ジャパン
FTIR装置- Brabender(Anton Paar TorqueTec)
ラマン分光計
Ｘ線構造解析
プロセス機器
密度・比重および濃度の測定
マイクロ波前処理・マイクロ波合成
飲料の分析
旋光度/糖度測定
粘度測定
屈折率測定
石油試験器
粘弾性測定
硬さ・摩擦・摩耗
固体表面分析(ゼータ電位測定)
粒子径・ゼータ電位・分子量測定
粒子径分布測定
熱分析
吸着装置
ポロメータ及びポロシメータ
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