電子科学株式会社

昇温脱離分析法

最終更新日: 2023-08-09 15:44:47.0
真空タイプの昇温脱離装置を取り扱っており、様々な分野で利用可能!

『昇温脱離分析法』は、古くは触媒分野で酸点・塩基点を
評価するために使用されてきた方法です。

一旦、触媒の温度を高温まで上昇させ吸着しているガスを除去し、
その後NH3やCO2を吸着。

その触媒を、再度プログラミングした条件で昇温させることでNH3やCO2を
再離脱させ、その脱離量から酸点・塩基点を評価します。

【利用分野】
■半導体分野において材料評価やプロセス設計支援
■各種薄膜(撥水、光学、対摩耗、光触媒)
■構造材料(ガラスファイバ、真空部品、セラミックス)
■吸蔵材料(水素吸蔵)など

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連カタログ

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

電子科学株式会社