最終更新日:
2024-07-16 09:17:28.0
簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。
『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。
当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。
高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。
また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。
【特長】
■膜厚測定や組成分析に好適
■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減
■より簡単に膜厚測定と素材分析ができる
■使いやすく設計されたユーザーフレンドリーな卓上型
■ハウジングの両サイドがスリット状になっており、大きな板状サンプルも測定可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【ラインアップ】
■XDL210（サンプルステージ：固定テーブル）
■XDL230（サンプルステージ：手動XYテーブル）
■XDL240（サンプルステージ：電動XYテーブル）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途例】 ■電気メッキパーツの測定 ■電子部品・半導体産業での機能性多層膜測定 ■プリント基板産業のAu、Pd、Ni薄膜測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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