最終更新日:
2024-03-22 14:34:35.0
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定
できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの
ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。
非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。
プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。
膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。
試料(サンプル)との距離が約12mmあるため複雑な形状の段差のある
部品の測定ができるようになります。
★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載
従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。。
【特長】
■ロングディスタンスタイプ
■非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置
■プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造
■装置ハウジング側面に開口部を設けており大きな基板にも対応
■XY軸はモーター駆動式でプログラム可能な測定ステージ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
基本情報
【仕様(抜粋)】
■電源：AC100V～240V 50/60Hz
■消費電力：最大120W
■保護クラス：IP40
■寸法：幅660x奥835x高720mm
■測定チャンバー内寸：幅580x奥560x高145mm
■重量：約135kg
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【使用目的】 ■プリント回路基板やコネクターなどの複雑形状の小さな部品の測定 ■薄膜の厚さ測定 (例)≦0.1umのAu ■複雑な多層コーティングの分析、膜厚測定 ■オプションにより、大型基板やフレキシブルプリント基板の測定も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
