最終更新日:
2024-03-22 14:34:04.0
電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。
『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。
当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの
膜厚測定や組成分析に好適です。
全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと
一次フィルターを搭載しています。
FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。
【特長】
■薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適
■機能性多層膜の測定・プリント回路基板などの自動測定
■小さな測定スポットでも高いカウント数が得られ、高い精度で測定可能
■高精度かつ長期安定性を有する
■より簡単に膜厚測定と素材分析が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】
■電源：AC115VまたはAC230V 50/60Hz
■消費電力：最大120W（PCを除く）
■保護クラス：IP40
■寸法：幅570x奥760x高650mm
■測定室内の寸法：幅460x奧495x高146mm
■重量：120kg
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■電気メッキ量産部品 ■小さな測定スポットの薄膜の厚さ測定 ■電子部品産業や半導体産業の機能性多層膜の測定 ■プリント回路基板などの自動測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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